應(yīng)用領(lǐng)域：

地質(zhì)/環(huán)境、石化、原料/礦物/水泥、金屬/合金、玻璃等眾多工業(yè)及科研領(lǐng)域

X射線熒光（XRF）光譜儀為實驗室提供了一個*的平臺，用于快速、準確分析多達90種幾乎在所有固體和液體樣品中存在的元素。與其它分析技術(shù)相比，

技術(shù)優(yōu)點：

● 制樣簡單、快速

● 樣品整個表面、表面某一部分或特定點處的分析

● 分析速度快

● 穩(wěn)定性高、精度高

● 動態(tài)范圍寬（從ppm 至*%）

● *的無標樣分析軟件包，可以對*未知的樣品進行簡單、快速的分析設(shè)計精巧，具有高靈敏度、高重現(xiàn)性和易于操作等優(yōu)勢，為廣范圍的樣品類型建立了速度、可靠性和靈活性的新標準。它將解決苛刻的日常工業(yè)生產(chǎn)過程和質(zhì)量控制應(yīng)用中遇到的復(fù)雜問題，包括冶金、石油、聚合物、礦物、玻璃、水泥和耐火材料行業(yè)，及專注于地球化學(xué)、汽車工程、材料科學(xué)、環(huán)境研究和法證的科研實驗室都將受益于其優(yōu)異的性能及多功能。

Axios-Advanced波長色散型X熒光光譜技術(shù)參數(shù)：

X-ray tube: Rh-anode SST-maX
Generator：4.0kW
Software: Super Q with IQ+

Axios-Advanced波長色散型X熒光光譜主要特點：

Axios-Advanced. Highest accuracy and precision.

Precision
Accuracy
Sensitivity
Speed
Analytical flexibility

Light element sensitivity
     The unparalleled light-element performance of  the SST-mAX is further enhanced by the use of laterally curved crystals( Ge111, PE 002), which have outstanding sensitivity and spectral resolution for Cl, S, P, Si and Al.
Element-specific, high-reflectivity multilayer crystals are optional for the analysis of Be, B, C and N.